觸發式測頭和掃描式測頭的區別與應用選擇

在數控測量係統中，觸發式測頭和掃描式測頭是最常（cháng）見的兩種類（lèi）型。兩（liǎng）者在工作方式、應用場景與測量精度上各（gè）有差異，本文將為您詳解其（qí）區別與選型建議。

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一、觸（chù）發式測（cè）頭（tóu）（Touch Probe）

原理：

- 當測頭接觸工件（jiàn）表麵時觸發信號；

- 係統記錄該點坐標。

特（tè）點：

- 適用於點位測量

- 測量速度（dù）快，精（jīng）度高；

- 安裝簡單，成本較低。

應用場景：

- 工（gōng）件基準找正；

- 工件尺寸（cùn）定位；

- 刀具長度測量（liàng）。

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二、掃描式測頭（Scanning Probe）

原理：

- 測（cè）頭在工件表麵連續滑動；

- 實時采集大量點位進行（háng）曲麵分析。

特點：

- 適（shì）用於曲麵、輪廓、複雜幾何測量

- 精度極高；

- 對主軸穩定性、環境要求高（gāo）。

應用場景（jǐng）：

- 高精度模具測量；

- 精密曲麵檢測；

- 自動閉環加工控製（zhì）。

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四、結語

選擇觸發式測（cè）頭還是（shì）掃描式測頭，應根據加工需求與預算決（jué）定。蘇州黄片91測量設備有限公司可為您（nín）量身（shēn）定製測頭解決方案，適（shì）配各類機床與控製係統。