機床測（cè）頭選擇—測頭選型技巧匯總（zǒng）

機床測頭選（xuǎn）擇—測頭選型技巧匯總

一、測頭的分類

探頭是（shì）測量機接觸被測零件的（de）信號開關。它是坐標測（cè）量機的關鍵部件（jiàn）。探針的精（jīng）度決（jué）定了測量機的重複性。另外，不同部位（wèi）需要選擇不同的功能探頭進行測量。

探頭可分為接觸式和非接（jiē）觸式（激光等）。目前主要采用接觸式測量和非接觸式測量，並可分為開關式（觸發式（shì）或動態傳輸式）和掃（sǎo）描式（比例式或（huò）靜態傳輸（shū）式）前兩類開關的測試本質是以零開關到為例，它相（xiàng）當於三對在電路中的觸點串聯（lián）時，當測量頭（tóu）產生任意方向的（de）位移時，無論從哪一（yī）個（gè）觸點，電（diàn）路都可以斷開傳輸（shū）計數。該開（kāi）關結構（gòu）簡單，壽命長（zhǎng）（106～107），測量重複性好（0.35～0.28m），成（chéng）本低，測（cè）量速度快。

掃描探頭在X、Y和Z方向基本上等同於差（chà）動電感測微計。在X、Y和Z方向（xiàng）上的運動由三個方向上的平行彈簧支（zhī）撐，並在（zài）沒有間隙的情況下旋轉。探頭（tóu）的偏移量由線性電感測量。掃描探針主要用（yòng）於測（cè）量複雜的（de）曲線和曲麵。

非接觸測頭主要分為激光掃描測（cè）頭和視頻測頭兩種。

激光掃（sǎo）描測頭主要用於實現較軟材料或一些特征表麵進行非接觸測量。測頭在距離檢測工件一定距離(比如50mm),在其聚焦點!5mm範圍內（nèi）進行測量，采點速（sù）率在200點/秒以上。通過對大量采集數據的平均處理功能而獲得（dé）較高的精度。視頻測頭進一步提（tí）高了測量機的應用，使得許多過去（qù）采用非（fēi）接觸測（cè）量無法完成的任務得以完成。一些諸如印刷線路板、觸發器、墊片或直徑小於0. 1mm的孔（kǒng）可采用視頻（pín）測頭進行測量。操作者可將檢測工件表麵放大50倍以上，采用標準的或可變換的鏡頭實現對細小工件的（de）測量。

二、如何選用觸發和掃描測頭的建（jiàn）議

1.什麽時侯用（yòng）觸發式測頭?

1.1零件所被關注的（de）是尺寸(如小的螺紋底孔).間距或位置，而並不強調（diào）其形狀誤（wù）差(如定（dìng）位銷孔) ;

1.2或你確信你所用的加（jiā）工設（shè）備有能加工出形狀足夠好的零件（jiàn），而（ér）注意力主要放在尺寸和位置精度時，接觸式觸發測量是合（hé）適的，特別是由於（yú）對離散（sàn）點的測量;

1.3觸發式（shì）測（cè）頭比掃描測（cè）頭快，觸發測（cè）頭體積較小當測量空（kōng）間狹窄時測頭易於接（jiē）近零件;

1.4一般（bān）來講觸發式測頭使用（yòng）及維修成本較（jiào）低;在機械工業中有大量的幾何量測量（liàng）,所關注的僅是零件的（de）尺寸及位置，所以目前市場上的大部分測量機，特別是中等精度測量機，仍然使用接觸式觸發測頭。

2.什麽時候用掃描測頭

應用於有形狀要求的零件和型（xíng）材的測（cè）量:掃描測量的主要優點（diǎn）是數據采集速度快。這些數據（jù）不僅可以確定零件的尺寸（cùn）和位置，而且可以準確描述多點的形狀和輪廓，特別適用於對形狀和輪廓要（yào）求嚴格的零件。該（gāi）零件的形（xíng）狀（zhuàng）直接影響（xiǎng）性能(如葉片、橢圓活塞等（děng）);當你不（bú）確定你所使用的加工（gōng）設備能（néng）不能生產出足夠好的形狀的零件，形狀（zhuàng）誤差成為主要問題時，也適（shì）用

高精度測量:掃描探頭是（shì）測（cè）量離散點的均勻力或恒力測點，測點精度更（gèng）高:

由於掃描探頭可以直接判斷（duàn）接觸點的法向量，對於需要嚴格定位和定向（xiàng）測量的場合（hé），掃描探頭在離散點的測量（liàng）方麵也具有優勢:

1、在可以應用接觸式測頭的情況下，慎選非接觸式測頭;

2、在隻測尺寸、 位置要素的情況（kuàng）下盡量選接觸式觸發測頭;

3、考慮成本又（yòu）能滿 足要求的情況下，盡量選接觸式觸發測頭:

4、對形狀及輪廓精度 要求較高的情況下選用掃描測（cè）頭;

5、掃描測頭應當可以對離散點進行測量；

6、考慮掃描測頭 與觸發測頭的互換性(一般用通用測座來達到);

7、易變（biàn）形零（líng）件（jiàn）、精度不高零件、要求超大量數據零件的測量，可以考慮采用非接觸式測頭;

8、要考慮軟件、附加硬件(如測（cè）頭控製器、電纜)的配套。

3.掃描測頭的優勢及劣勢

優勢:

1、適（shì）於形（xíng）狀及輪廓（kuò）測量: .

2、采點率高: .

3、高密度采點保證了良好的（de）重（chóng）複性（xìng）、再現性(GR&R):

4、更高級的數據處理（lǐ）能力（lì）:

劣（liè）勢（shì）: .

1、比（bǐ）觸發測頭複雜:

2、對離（lí）散點的（de）測量（liàng）較觸（chù）發測頭為慢:

3、高速掃描時由於加速（sù）度而引起的（de）動（dòng）態誤差很大，不可忽略，必須加以補償;

4、測尖的磨損必須注意。

4.觸（chù）發式測頭的（de）優勢及劣勢:

優勢:

1、適於空間棱柱（zhù）形物體及己知表麵的測量:

2、通用性強,

3、有多種不同類型的觸發測頭及附（fù）件供采（cǎi）用:

4、采購及運行成本低（dī）;

5、應用簡單

6、適用於尺寸測量及在（zài）線應用:

7、堅固耐用

8、體積（jī）小，易於在窄小空間應用

9、由於測點時測量機處於勻速直線低速運行狀態，測量機的動態性（xìng）能對測（cè）量精度影響較小:

劣（liè）勢:測量取點率低。

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