觸發式（shì）測（cè）頭和掃描式測頭

在（zài）數控（kòng）機床中，觸發式測頭和掃描式測頭是兩種常見的在機測量技術，黄片91測量提醒您（nín），它們各（gè）自具有（yǒu）不同的特（tè）點和適用場景：

觸發式測頭（TouchTriggerProbes）

觸發式測頭是通過（guò）觸碰工件表麵來進行位（wèi）置測量（liàng）的。當（dāng）測頭的觸感針觸（chù）碰到（dào）工件時，針尖偏轉，從（cóng）而觸發一個開關（guān）信號，該信號被發送到數（shù）控係統，用來計算被測點的坐標位（wèi）置。

優點：

•簡單且易於（yú）使用（yòng）。

•對於單個測量點非常快速和準確。

•適用於工件設（shè）置、特征測量以及檢測工件的（de）在位情況。

缺點：

•僅在測頭與工件接觸點提供數據。

•不適（shì）合測量複雜形狀或連續曲線。

•測量速（sù）度較慢，因為每（měi）個點都需要單獨接觸。

掃描（miáo）式測頭（ScanningProbes）

掃描式測頭可以在與工件表麵接觸的（de）同時沿著工件表麵移動，持（chí）續收（shōu）集數據點。這（zhè）允許（xǔ）它們捕獲工件的連續輪廓數據，從而用於分析（xī）工件的（de）實際幾何形狀。

優點：

•能夠連續測量，獲取大量數據（jù）點，適合（hé）複雜形狀和曲麵。

•可以快速獲取工件的全麵數據，適合做詳細的形狀和尺寸檢驗。

•收集到（dào）的（de）數據可以用於詳細分（fèn）析和逆（nì）向工（gōng）程。

缺點：

•相對於觸發式測頭，複雜（zá）度和成本更高。

•需要更複雜的數據處理和分（fèn）析軟件。

•測量過程中對機床和測頭的穩定性要求更高。

觸發式測頭和掃描式測頭兩種類型的測頭都需要定期的（de）校準，以確保測量的（de）準確性。在（zài）選擇適合（hé）的測頭時，需要考慮到（dào）生產環境、工件的複雜性、所（suǒ）需的測量速度和精度，以及成本（běn）因素。觸（chù）發式測頭適（shì）合簡單快速的（de）點測量，而掃描（miáo）式測頭適合對形狀複雜、需要高精（jīng）度輪廓數據的工件進行測量。