測量過程中的（de）測頭預行程誤差（chà）分析

非球麵光學零件憑借在光（guāng）學（xué）係統中的作（zuò）用：有效校正係統像差，擴大係（xì）統視覺角度，減輕係統整體質量縮小係統體積等，正被廣（guǎng）泛應用於各（gè）類型的高精尖科（kē）技生產加工領域。非球麵麵型檢測技術不可（kě）避免的成為加工工藝的一部分，且相當重（chóng）要，所以如何能夠準確快速高效地檢測出非球麵零件的麵型信息至關重要。光（guāng）學（xué）測量方法眾多且測量精度可以達到納米級別，但是這種光學測量又會可能收到（dào）空氣介質（zhì）和灰塵的影（yǐng）響，對於（yú）待測零件的表麵精度要求比較高，設備成本也很（hěn）高。一般應用在精密拋光階段對最終成型的零部件進（jìn）行測量。

接觸式測量（liàng）具（jù）有更高的適用性，性價比高，精確度也高，雖然也存在（zài）誤（wù）差如接觸變形誤差和零件表麵劃傷風險（xiǎn），但是在（zài）實際加工（gōng）過程中，還是接觸型測量更加有用，可靠，有實用性，主要應用於零件的精磨階段。

針對測量過程中觸發式測頭預行（háng）程（chéng）誤差進行分析，通過對測杆彎曲變形和（hé）測球變形的受力分析，建立（lì）預行程誤（wù）差模型，在進行深入分析，通過對接觸力的理論推理，精確計算（suàn）出（chū）預行程誤差值，由此可以深入研究預行程（chéng）誤差補償方法。

在實際測量（liàng）的過程中，由於測頭自身機械響應的滯後，接觸到被測零件表麵時並不會立即發出觸發信號，所以（yǐ）從測（cè）頭接觸到被（bèi）測零件表麵到被觸發這一過程，就是叫做測（cè）頭預行程誤差。而（ér）影響這（zhè）種誤差的（de）因素（sù）又眾多，如測（cè）杆彎曲位移（yí）導致誤差，測球接觸位移誤差等等，所以在做預行程（chéng）誤差分析時，要特別注意的是，為了精確計算測頭預（yù）行程誤差，針對不同（tóng）誤差原因因素，分別進行數學建模，對誤差進行定量分析。