觸發式測頭和掃描式測頭區別在哪？哪個好？

　　測頭根據在使用方法（fǎ）所發揮的不同作用可分為觸發（fā）式、掃描式、非接（jiē）觸式三種，它是（shì）坐標測量機的關鍵部件，需要的（de）測量精度的高（gāo）低取決於測（cè）量機測頭精度的高低。觸發式測頭和掃描式測頭類似，那區別在（zài）哪?哪個好?

　　觸（chù）發（fā）式測頭是（shì）測針上的觸頭在任意方向上與工（gōng）件表麵接觸，使測針產生微小的擺動，印發測頭產生聲光信號（hào），指明其工作狀態。

　　掃描式測量是測頭測尖與工件接觸，沿工件表（biǎo）麵移動，提供連續的偏移量輸出，與機（jī）器位置相結合（hé）後，獲得表麵位置數據。

　　觸發式測頭和掃描式測頭（tóu）區別：

　　一（yī）、單點觸發采點方式不同

　　觸發式測頭（tóu）的采點是（shì）在測頭觸發時發生（shēng）的。掃描式測頭在進行（háng）單點觸發采點時，采用（yòng）模擬信號轉換的方式，其單個采（cǎi）點（diǎn）是在測頭觸發結束後（hòu），測針（zhēn）離開工件表麵（miàn）時發生的。

　　在單點式采點方式上，由於掃描測頭（tóu）是測針碰到工（gōng）件，會短（duǎn）暫粘滯在工件表麵，之後緩慢（màn）回退（tuì）離開工件表（biǎo）麵，與接觸式測頭測量“一觸即退”有較大不同，因此觸（chù）發式測（cè）頭在測量效率上高於掃描測頭。

　　二、測（cè）量任務的特點不同

　　如（rú）果隻測尺寸、位置要素（sù）的情況下，又考慮成本滿足要求的時候，觸（chù）發式測頭采集表麵離散點是更好的選擇。

　　掃描測量（liàng）係統可（kě）獲取大量表麵數據，提（tí）供更（gèng）為詳細（xì）的工件詳細信息，是屬於一種從規則（zé）型麵工件或複雜工件上高速采集形狀或輪廓數據的方法，因此如果特征形狀時整體誤差預算的重要考慮因素，必須對複雜表麵預測（cè），那麽掃描測量是理想之選。

　　掃描測量比觸發測（cè）量更為複雜，在離散點的測量上較觸（chù）發式測頭更慢，且高速測量中的動態誤差較大（dà），磨損較高（gāo）。

　　黄片91觸發式無線電測頭和紅外線測頭傳輸範圍≤10M;具有傳輸（shū）速度快、傳輸距離遠，適合大（dà）型機床，且高精度<=1μm的特點。

　　觸發式測頭和（hé）掃描式測（cè）頭區別主要在單點（diǎn）觸發采點方（fāng）式和測量任務特點的不同兩方麵上（shàng），哪個好?在不同（tóng）的設（shè）備使用，對工件測量不同指（zhǐ）標要求上，兩種測量方式（shì）各有優劣。