觸發式測頭和光學測（cè）頭的區（qū）別是什麽？哪個好？

　　觸發式測頭和光學測頭是數控機床產生加工中常見的兩種不同的測量方法，相較於直接工件表麵的觸（chù）發式測頭，根據光的物理特性進行測量的（de）光（guāng）學測頭相比，兩者的區別在哪?哪個好（hǎo）?

　　觸發式測頭和光學測頭的區別：

　　一（yī）、采集方式不同

　　觸（chù）發式測頭是一個一個點逐次獲取的方式，通（tōng）過測頭不離開零件表麵的方式來提高取點（diǎn）速度，屬於（yú）單點采集;

　　光學測頭在光源維度上分為點光源、線光源和麵光源，針對需要大麵積輪廓的空間點坐標，線掃描（miáo）測頭（tóu）可通過一條由若（ruò）幹點的激光在工件表麵移（yí）動，即可掃描一片區域;麵掃描測頭是通過一組編碼的光線柵格，一個性便可（kě）獲取一（yī）個特定大小區（qū）域內的點雲。

　　二、是（shì）否產生餘弦誤（wù）差

　　觸發式測頭采點時（shí），測頭記錄的是測球中心的空間坐（zuò）標，根據測球半徑來（lái）進行補償，得出實際點的坐標（biāo）;但在測量特定位置的三維曲線時，就會存在按照測點的法線（xiàn）方向（xiàng）采點，會存在半（bàn）徑補償餘弦誤差;但若按照測點的法線方向采點，就會產生實際測點（diǎn）位置出現偏差;

　　而光學測（cè）頭是直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標，不存在半徑（jìng）補償環節。

　　三、光線的可觸及性不同

　　測球的各個部（bù）位都可以通過觸發式來采點，而光（guāng）學傳播是沿直線的，線無法“轉彎”，因此，徑深比很小（xiǎo）的孔、L性測針的（de）應（yīng）用場景，觸發式測頭相較於光學式測頭（tóu）更為方便。

　　黄片91機床（chuáng）測頭適用於（yú）高精度零件檢測、薄壁零件檢測、模具曲麵檢測、大尺寸零件在線檢測、大批量在線測量、渦（wō）輪葉片檢測（cè）等。

　　觸發式測頭和光學（xué）測（cè）頭哪個好?從以上三方麵的對比中，光學測頭的優勢（shì）似乎更明顯，但並非意味著光學測（cè）頭可以（yǐ）完全取代觸（chù）發式測頭。兩者可以說是互補，麵對市麵上多類型產品，如何選擇?最終還是取決於測量需求。