測(cè)量方法指的是什麽?廣義的測(cè)量(liàng)方法,是指測量時采用的測(cè)量原理、測量器具和測量條件的總和。而(ér)在實際測量工作中,測量方法通常是指獲得(dé)測(cè)量結果的(de)具(jù)體方式,它可以按下麵幾種情況進(jìn)行:

一、按被測幾何(hé)量(liàng)獲得(dé)的方法(fǎ)分類
①直接測量直接測量是指(zhǐ)被測幾何量的量值直接由測量器具讀出。例(lì)如,用(yòng)遊(yóu)標卡尺、千分尺測量軸(zhóu)徑的大小。
②間接測量 間接測量是指欲測量的幾何量的(de)量值由實測幾(jǐ)何量的量值按(àn)一定的函數關係式運算後(hòu)獲得(dé)。例如,測量較大圓柱形零件的直徑D時,可以先測出其周(zhōu)長(zhǎng)L,然後通過公式D=L/π,求得零件的(de)直徑。
直(zhí)接測量過程簡單,其測量精度隻與這一測量過程有關,而間接測量的精度不僅取決於實測幾何量的測量精度,還與所依據的計算公式和計算的(de)精度有關。
一般來說(shuō),直接測量(liàng)的精度比(bǐ)間接測量的精度高。因此,應盡量采用(yòng)直接測量(liàng),對於受條(tiáo)件所限無法進(jìn)行直接測量的場合采(cǎi)用間接測量。
二(èr)、按示值是否是被測幾何(hé)量的全部量值分類
①絕對測量絕對測量是指測量時測量器具的示值就是被測幾何(hé)量的全部量值。例如,用遊標卡尺、千分尺測量軸徑的(de)大小。
②相對測量 相對測量又稱比較測量,這時測量器具的示值隻是被測幾何量相對於標準量(已知)的偏差(chà),被測幾何量的量值等於已知標準量與該偏差值(示值)的代數和。例如,用立式光學比較(jiào)儀測量軸徑,測量時先用量塊(kuài)調整示值零位,該比較(jiào)儀指示出的示(shì)值為被測軸徑相對於量塊尺寸的偏差。
三、按測量時被測表麵與測量(liàng)器具的測頭是否接觸分類
①接觸測量接觸測量是指在測量過程中,測量器具的測頭與被測表麵接觸(chù),即有測量力存在。例如,用立式光學比較(jiào)儀測量軸徑。
②非接(jiē)觸測量 非接觸(chù)測量是指在測量過程中,測量器具的測頭不與被測表麵接觸,即無測(cè)量力存在。例如,用光切顯(xiǎn)微(wēi)鏡測量表麵粗(cū)糙度,用氣動量儀測量孔徑。
對於(yú)接觸測量,測頭和被測表(biǎo)麵的接觸(chù)會(huì)引起彈性變形,即(jí)產生測量誤差。而非接觸測(cè)量則無此影響,故(gù)易變形的軟質表麵或薄壁工件多用非接觸測量。
測量方法有哪些分類?上篇從以(yǐ)被測幾何量(liàng)獲得的方(fāng)法、示值是否被測幾何量的全(quán)部量值、被測表麵與測(cè)量器具的測頭是否接(jiē)觸三大分類(lèi)進(jìn)行說明。